歡迎來到上海曼戈斐光學技術有限公司網站!
咨詢熱線

17706131531

當前位置:首頁  >  新聞中心  >  使用白光干涉顯微鏡測量薄膜厚度的操作技巧

使用白光干涉顯微鏡測量薄膜厚度的操作技巧

更新時間:2023-10-24      點擊次數:89
  白光干涉顯微鏡是一種重要的儀器,可以用于非接觸式測量透明薄膜的厚度。透明薄膜的厚度測量在材料科學、納米技術和光學領域具有重要意義。下面將介紹如何利用白光干涉顯微鏡進行薄膜厚度測量。
  
  首先,我們需要了解白光干涉的原理。白光干涉是指當光波從一個介質傳播到另一個介質時,由于兩個介質的折射率不同,光波會發生干涉現象。這種干涉產生的干涉條紋可以通過白光干涉顯微鏡來觀察和分析。
  
  接下來,我們需要準備實驗樣品和白光干涉顯微鏡。實驗樣品應為透明薄膜,如氧化物薄膜、聚合物薄膜等。白光干涉顯微鏡包括一個光源、一個分束器、一個樣品臺和一個目鏡。

白光干涉顯微鏡的使用技巧

 


  在實驗中,我們將樣品放置在樣品臺上,然后通過分束器將光源發出的白光分為兩束,一束作為參考光線,另一束經過樣品后與參考光線進行干涉。干涉產生的干涉條紋會通過目鏡觀察和記錄。
  
  為了測量薄膜的厚度,我們需要調整干涉條紋的位置和形態。首先,我們可以通過調節樣品臺的高度來改變樣品與參考光線之間的光程差。當光程差為整數倍波長時,干涉條紋會出現明暗相間的條紋,這是完全干涉的狀態。我們可以通過移動樣品臺,使干涉條紋達到這個狀態。
  
  接下來,我們可以通過調節樣品的傾斜角度來改變光程差。當光程差為半波長時,干涉條紋會出現最大的明暗交替。我們可以通過調節樣品的傾斜角度,使干涉條紋達到這個狀態。
  
  在調整干涉條紋后,我們可以使用干涉圖樣進行薄膜厚度的測量。干涉圖樣中的明暗條紋間距與薄膜的厚度相關。根據光學干涉的原理,當光波從薄膜表面反射時,形成了一系列反射光束。這些光束與透過薄膜的光束發生干涉,形成干涉條紋。通過分析干涉條紋的間距和形態,我們可以計算出薄膜的厚度。
  
  測量薄膜厚度時,我們可以使用干涉圖樣中的等高線法或計數法。等高線法是通過觀察干涉圖樣中的等高線數量來估計薄膜的厚度。計數法是通過計算干涉條紋的數量來測量薄膜的厚度。這些方法都需要根據實際情況進行校準和計算。
  
  需要注意的是,在進行薄膜厚度測量時,應該考慮到實驗條件的穩定性和環境因素的影響。溫度、濕度和振動等因素都可能對測量結果產生影響。因此,在實驗過程中,應該盡量控制這些因素,以確保測量結果的準確性和可靠性。
  
  總結起來,利用白光干涉顯微鏡測量薄膜的厚度是一種非接觸式的測量方法,通過觀察和分析干涉條紋來推導薄膜的厚度。這種方法在材料科學和光學研究中具有重要意義,可以幫助我們了解和控制薄膜的性質和應用。
上海曼戈斐光學技術有限公司
  • 聯系人:干女士
  • 地址:蘇州工業園區星漢街5號騰飛新蘇工業坊B幢6樓13室
  • 郵箱:ganxiafen@megphy.com
  • 傳真:0512-62510650
關注我們

歡迎您關注我們的微信公眾號了解更多信息

掃一掃
關注我們
版權所有©2023上海曼戈斐光學技術有限公司All Rights Reserved    備案號:滬ICP備18013203號-1    sitemap.xml    總流量:223017
管理登陸    技術支持:化工儀器網    
国产精品亚洲第一区在线,国产综合色香蕉精品五夜婷,精品国精品国产自在久国产应用,久久综合五月天婷婷丁香社区